SWIR（短波紅外）成像是無損檢測的絕佳解決方案。它可以根據物體表面SWIR光譜特征區分材料，并提供安全便捷的方法來保證產品質量，包括檢查包裝中的液體質量，檢查密封容器里的內容以及檢測農產品中的損壞和雜志等。另外，還可以在半導體工業中進行硅晶圓的太陽能電池缺陷檢查。
| 型號/model | C15333-10E |
| 有效像素數 | 1024 (H) × 1 (V) |
| 像素尺寸 | 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) |
| 有效面積 | 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) |
| 滿阱容量 |
Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons |
| 讀出速度 |
Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz |
| 曝光時間 | 21 μs to 1 s (1 μs step) |
| 外部觸發輸入 | Sync readout |
| 外部觸發信號路徑 | 12 pin SMA or HIROSE connector |
| 圖像處理功能 | Background subtraction, Real time shading correction |
| 接口 | Gigabit Ethernet |
| A/D轉換器 | 14 bit |
| 鏡頭卡口 | C mount |
| 電源 | DC 12 V |
| 量子效率 | above 60 % (1100 nm ～ 1600 nm) * |
| 功耗 | 6 W max. |
| 推薦環境工作溫度 | 0 ℃ to +40 ℃ |
| 環境儲存溫度 | -10 ℃ to +50 ℃ |
| 環境工作濕度 | 30 % to 80 % (with no condensation) |
| 環境儲存濕度 | 90 % max. (with no condensation) |
| 成像器件 | InGaAs line sensor |
